Plateforme de Microscopie Electronique Avancée de MPQ

Présentation

Activités

Expertises

Les personnels de la plateforme ont des compétences complémentaires sur une ou plusieurs des techniques ci-dessous :

• Microscopie à haute résolution corrigée des aberrations ;
• Microscopie à haute résolution conventionnelle ;
• Imagerie en champ clair et champ sombre conventionnelle et diffraction électronique ;
• Microscopie environnementale et milieux gazeux ou liquide ;
• Spectroscopie de pertes d’énergie des électrons EELS), STEM / EELS et propriétés optiques d’objets uniques ;
• Imagerie filtrée (Energy Filtered TEM, EFTEM) ;
• Tomographie en mode TEM/STEM/EFTEM ;
• Microscopie in situ en température à très haute résolution ;
• Spectroscopie d’analyse par dispersion en énergie des rayons (EDXS).

En fonction des projets, les membres de l’équipe prennent en charge un projet donné en fonction de l’adéquation de leurs compétences avec les besoins spécifiques du projet.
Nous pouvons également former tout nouveau collaborateur sur l’une de ces techniques si il/elle est amené(e) à l’utiliser régulièrement à moyen ou long terme.

Équipements

La plateforme est équipée de trois microscopes électroniques, deux microscopes en transmission et un microscope à balayage.

Microscope en transmission corrigée des aberrations : JEOL ARM 200 CF
TEM doublement corrigé en sonde et en image pour l’imagerie atomique à des échelles sub-Angström et spectroscopies des rayons X et de pertes d’énergies avec cartographie chimique à l’échelle du nanomètre. Mode STEM et HRSTEM avec détecteurs en champs clair, champ clair annulaire, champ sombre et champ sombre à grand angle.
Résolution spatiale : 75 pm à 200 kV, résolution en énergie pour la spectroscopie : 0.40 eV.

Microscope en transmission conventionnel : JEOL 2100 Plus
Microscope à pointe de LaB6 pour les observations conventionnelles, la diffraction électronique et l’analyse par spectroscopie des rayons X. Mode STEM avec détecteurs champ clair et champ sombre.
Résolution spatiale : 0.19 nm à 200 kV, 1 nm en mode STEM, résolution en énergie : 1 eV.

Microscope électronique à balayage : JEOL SEM 6510
Microscope conventionnel avec filament de tungstène pour des observations standards de matériaux sous diverses formes. Grande chambre d’observation permettant d’y insérer des expériences embarquées. Imagerie de surface et spectroscopie de rayon X pour des cartographies chimiques à l’échelle de quelques dizaines de nanomètres.
Résolution spatiale : 5 nm

Services proposés

Tous types de caractérisation de matériaux et de nanomatériaux depuis les échelles microscopiques (MEB) jusqu’à l’échelle sub-angström (MET corrigé des aberrations) à l’aide de l’une des techniques ci-dessus.
Microscopie analytique pour détermination de composition ou bien cartographie chimique des matériaux ou cartographie de nanomatériaux à l’échelle nanométrique.
Expérience en microscopie environnementale en milieu liquide ou gazeux avec suivi in situ de l’évolution des matériaux dans leurs milieux d’applications. Possibilité de mélanger plusieurs gaz et de suivre les produits de réaction par spectrométrie de masse couplée au microscope.
Nous pouvons également assurer des cours et des TP dans ces domaines pour les niveaux L3, M1 et M2 ainsi que des formations plus spécialisées pour des collègues désireux de devenir autonome sur l’un de nos instruments.